Hast非饱和型老化91麻豆福利导航大全可做高温高湿高压、双85试验等测试，用于电子原器件，LED封装，芯片(IC)、集成电路、半导体等检测产品性能之用。

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　　可选购多个BIAS电压端子：符合JESD22-A110之实验规范要求，模拟待测品在高温、高湿环境下，加载大式作电压，检测内部封装模块材料接合与保护层的渗透，并且观察是否造成迁移。

　　【合作案例】济南半导体研究所、广州赛宝、北京航空航天大学、华为技术、中北大学、NEC电子、北京协同创新研究院、比艾奇、讯芯等等企业。